計(jì)算機(jī)主板二箱式冷熱沖擊箱
簡要描述:計(jì)算機(jī)主板二箱式冷熱沖擊箱 是一種專門設(shè)計(jì)用來測試計(jì)算機(jī)主板在溫度變化下的耐用性和穩(wěn)定性的設(shè)備。隨著計(jì)算機(jī)硬件技術(shù)的不斷進(jìn)步,主板作為計(jì)算機(jī)的核心部件之一,其穩(wěn)定性和可靠性對于整機(jī)性能至關(guān)重要。冷熱沖擊測試模擬了設(shè)備在不同環(huán)境下可能遇到的溫度急劇變化,從而驗(yàn)證主板在這種條件下是否能夠正常工作并保持性能。
- 產(chǎn)品型號:DR-H203G
- 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
- 更新時間:2024-11-23
- 訪 問 量:24
產(chǎn)品&規(guī)范 | 高溫 | 低溫 | 溫變率 | 循環(huán)數(shù) | 循環(huán) 時間 | 備注 | |
MIL-STD-2164、GJB-1032-90 電子產(chǎn)品應(yīng)力篩選 | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 5℃/min | 10~12 | 3h20min | ||
MIL-344A-4-16 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選 | 71℃ | -54℃ | 5℃/min | 10 | |||
MIL-2164A-19 電子設(shè)備環(huán)境應(yīng)力篩選 | 工作極限溫度 | 工作極限溫度 | 10℃/min | 10 | 駐留時間為內(nèi)部達(dá)到設(shè)定溫度10℃時 | ||
NABMAT-9492 美軍hai軍制造篩選 | 55℃ | -53℃ | 15℃/min | 10 | 駐留時間為內(nèi)部達(dá)到設(shè)定溫度5℃時 | ||
GJB/Z34-5.1.6 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選 | 85℃ | -55℃ | 15℃/min | ≧25 | 達(dá)到溫度穩(wěn)定的時間 | ||
GJB/Z34-5.1.6 電子產(chǎn)品定量環(huán)境應(yīng)力篩選 | 70℃ | -55℃ | 5℃/min | ≧10 | 達(dá)到溫度穩(wěn)定的時間 | ||
筆記型計(jì)算機(jī) | 85℃ | -40℃ | 15℃/min |
主板二箱式冷熱沖擊箱 是一種專門設(shè)計(jì)用來測試計(jì)算機(jī)主板在溫度變化下的耐用性和穩(wěn)定性的設(shè)備。隨著計(jì)算機(jī)硬件技術(shù)的不斷進(jìn)步,主板作為計(jì)算機(jī)的核心部件之一,其穩(wěn)定性和可靠性對于整機(jī)性能至關(guān)重要。冷熱沖擊測試模擬了設(shè)備在不同環(huán)境下可能遇到的溫度急劇變化,從而驗(yàn)證主板在這種條件下是否能夠正常工作并保持性能。
主板二箱式冷熱沖擊箱的功能和特點(diǎn):
雙箱設(shè)計(jì):
高溫箱和低溫箱分開設(shè)置,通常通過一個傳輸裝置(例如,提籃、滑軌或傳送帶)將測試中的主板從一個箱體轉(zhuǎn)移到另一個箱體,確??焖偾袚Q溫度環(huán)境。
高溫箱的溫度范圍通常為60°C至150°C,低溫箱則一般為**-40°C至-70°C**。主板在這兩種環(huán)境下會經(jīng)歷冷熱急劇變化。
快速溫度變化:
二箱式冷熱沖擊箱能夠快速地從一個溫度切換到另一個溫度。通常,溫度變化速度可以達(dá)到每分鐘20°C到30°C,甚至更高,模擬計(jì)算機(jī)主板可能面臨的快速環(huán)境溫差變化。
模擬實(shí)際環(huán)境:
計(jì)算機(jī)主板常常需要在各種環(huán)境下工作,冷熱沖擊測試能夠模擬在環(huán)境下的應(yīng)用場景,如設(shè)備搬遷、倉儲運(yùn)輸?shù)冗^程中可能發(fā)生的溫度變化。通過冷熱沖擊測試,評估主板的抗溫差變化能力,確保其能夠在高溫和低溫環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行。
測試次數(shù)和循環(huán):
測試通常需要進(jìn)行多次冷熱循環(huán)(例如,20次、50次、100次等),每一次從低溫到高溫,或從高溫到低溫的快速轉(zhuǎn)換,都對主板的穩(wěn)定性提出了挑戰(zhàn)。
測試期間的保護(hù):
高質(zhì)量的冷熱沖擊箱配備有防冷凝裝置,以防止低溫環(huán)境下由于急劇升溫而形成水珠,避免冷凝水對主板造成電路短路或腐蝕等損害。
實(shí)時監(jiān)控:
設(shè)備通常配備了實(shí)時監(jiān)控系統(tǒng),用于記錄溫度變化、主板工作狀態(tài)、以及測試過程中出現(xiàn)的任何異常(例如主板無法啟動、藍(lán)屏死機(jī)等)。這些數(shù)據(jù)對分析主板在不同環(huán)境下的表現(xiàn)至關(guān)重要。
計(jì)算機(jī)主板二箱式冷熱沖擊箱的工作原理:
準(zhǔn)備測試物品:
將計(jì)算機(jī)主板放置在冷/熱沖擊箱的托盤上,確保其固定且與環(huán)境接觸良好。主板可能需要連接到簡單的測試電路,用于實(shí)時監(jiān)控其工作狀態(tài)。
溫度變化:
測試開始時,主板首先置于高溫箱內(nèi),進(jìn)行高溫測試。此時,主板需要在較高溫度下穩(wěn)定運(yùn)行,檢查其對溫度升高的適應(yīng)能力。隨后,主板被迅速移至低溫箱進(jìn)行低溫測試,檢驗(yàn)其在低溫下的啟動和穩(wěn)定性。
冷熱交替循環(huán):
在多個冷熱交替循環(huán)的過程中,主板會經(jīng)歷多次從低溫到高溫,再從高溫到低溫的轉(zhuǎn)換。每次轉(zhuǎn)換都會對主板的電氣性能、熱膨脹和收縮等方面產(chǎn)生影響,測試其在反復(fù)冷熱沖擊中的表現(xiàn)。
性能檢測:
在冷熱沖擊測試完成后,檢查主板的各項(xiàng)性能指標(biāo)。例如,是否能夠正常啟動,處理器、內(nèi)存、硬盤等組件是否能正常工作,是否出現(xiàn)死機(jī)、藍(lán)屏或性能下降等問題。
數(shù)據(jù)記錄與分析:
測試過程中,系統(tǒng)記錄下每一次溫度變化、測試期間主板的穩(wěn)定性等數(shù)據(jù)。通過這些數(shù)據(jù),可以評估主板在環(huán)境下的長期耐用性,確定其是否符合生產(chǎn)標(biāo)準(zhǔn)。
計(jì)算機(jī)主板二箱式冷熱沖擊箱的應(yīng)用場景:
主板研發(fā)與測試:
在主板的研發(fā)階段,工程師會利用冷熱沖擊箱進(jìn)行高溫、低溫和冷熱交替測試,驗(yàn)證設(shè)計(jì)是否符合耐溫要求,確保其能夠在各種環(huán)境條件下正常運(yùn)行。
生產(chǎn)質(zhì)量控制:
對于批量生產(chǎn)的主板,冷熱沖擊測試是質(zhì)量控制的重要環(huán)節(jié)。通過進(jìn)行嚴(yán)格的冷熱沖擊測試,確保每一塊主板的質(zhì)量合格,能夠應(yīng)對實(shí)際使用中的溫度變化。
國際認(rèn)證與標(biāo)準(zhǔn):
許多電子產(chǎn)品需要符合國際標(biāo)準(zhǔn)和認(rèn)證要求,例如,MIL-STD-810(美國標(biāo)準(zhǔn)),以及IEC 60068-2-14等國際標(biāo)準(zhǔn),冷熱沖擊測試通常是這些認(rèn)證的一個重要部分。
售后服務(wù)與質(zhì)量保證:
在計(jì)算機(jī)主板的售后服務(wù)中,廠家會使用冷熱沖擊箱來檢查出現(xiàn)故障的主板,確定其是否在溫差較大的環(huán)境中出現(xiàn)問題,為用戶提供更好的技術(shù)支持和質(zhì)量保障。
相關(guān)標(biāo)準(zhǔn):
IEC 60068-2-14:國際電工委員會標(biāo)準(zhǔn),適用于電子設(shè)備的冷熱沖擊測試,規(guī)定了設(shè)備在溫度變化下的測試方法和要求。
MIL-STD-810:美國標(biāo)準(zhǔn),針對設(shè)備在環(huán)境條件下的性能,包括冷熱沖擊測試。
GB/T 2423.22:中國國家標(biāo)準(zhǔn),適用于電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn),包含冷熱沖擊測試方法。
ISO 16750:汽車電子設(shè)備的環(huán)境測試標(biāo)準(zhǔn),包含冷熱沖擊等環(huán)境測試要求。
總結(jié):
主板二箱式冷熱沖擊箱是驗(yàn)證主板在溫差變化條件下穩(wěn)定性和耐用性的關(guān)鍵設(shè)備。通過模擬溫度的急劇變化,測試主板在高溫、低溫以及冷熱交替過程中是否能夠正常工作,檢查其抗熱膨脹、收縮以及電氣穩(wěn)定性。冷熱沖擊箱廣泛應(yīng)用于主板的研發(fā)、生產(chǎn)質(zhì)量控制、認(rèn)證驗(yàn)證和售后服務(wù)等環(huán)節(jié),確保計(jì)算機(jī)主板能夠在各種環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行。