hast高壓老化箱測(cè)試系統(tǒng)
簡(jiǎn)要描述:hast高壓老化箱測(cè)試系統(tǒng)被廣泛應(yīng)用于電子元器件行業(yè)、汽車電子領(lǐng)域、光電產(chǎn)業(yè)、醫(yī)療器械領(lǐng)域以及航天航空領(lǐng)域,用于測(cè)試半導(dǎo)體制造、電子元件、印刷電路板(PCB)、汽車電子控制系統(tǒng)、LED制造與檢測(cè)、光通信器件、小型植入式醫(yī)療器械、航天電子設(shè)備等產(chǎn)品的耐高溫高濕能力,多端口數(shù)據(jù)支持:具有USB接口,可直接復(fù)制記錄歷史曲線和數(shù)據(jù),也可通過RS-232或RS-485接口控制機(jī)器并將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)硬盤上
- 產(chǎn)品型號(hào):DR-HAST-350U
- 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間:2024-10-22
- 訪 問 量:194
hast高壓老化箱測(cè)試系統(tǒng)是一種用于評(píng)估電子元器件、半導(dǎo)體、微電子芯片、磁性材料及其他電子零件在高溫、高濕、高壓環(huán)境下的可靠性的設(shè)備。以下是HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱的測(cè)試系統(tǒng)特點(diǎn):
應(yīng)用領(lǐng)域廣泛:HAST試驗(yàn)箱被廣泛應(yīng)用于電子元器件行業(yè)、汽車電子領(lǐng)域、光電產(chǎn)業(yè)、醫(yī)療器械領(lǐng)域以及航天航空領(lǐng)域,用于測(cè)試半導(dǎo)體制造、電子元件、印刷電路板(PCB)、汽車電子控制系統(tǒng)、LED制造與檢測(cè)、光通信器件、小型植入式醫(yī)療器械、航天電子設(shè)備等產(chǎn)品的耐高溫高濕能力。
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)多樣:滿足多種國(guó)際測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),如GB/T2423.40、IEC60068-2-66、JESD22-A100至A118等,確保測(cè)試的準(zhǔn)確性國(guó)際互認(rèn)性。
精確的溫濕度控制:采用干濕球溫度控制、升溫溫度控制及濕潤(rùn)飽和控制等三箱控制模式,精確控制測(cè)試環(huán)境的溫度和濕度,以確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。
多重保護(hù)功能:具備三道高溫保護(hù)裝置、濕度用水?dāng)嗨Wo(hù)與電熱斷水空焚保護(hù)、機(jī)臺(tái)停機(jī)時(shí)自動(dòng)排除飽和蒸氣壓力、氣動(dòng)機(jī)構(gòu)壓力保護(hù)等,確保測(cè)試過程的安全。
濕度自由選擇:可以選擇飽和(100%R.H濕度)與非飽和(75%R.H濕度)的設(shè)定,提供更大的靈活性。
智能化控制系統(tǒng):配備7寸真彩式觸摸屏,擁有250組12500段程序,具有USB曲線數(shù)據(jù)下載功能,RS-485通訊接口,支持電腦連接,方便數(shù)據(jù)管理和分析。
易于清潔和操作:采用V型冷凝器,散熱面積大,冷卻效率高。冷軋板烤漆,易于保養(yǎng),耐腐蝕,耐高低溫。
多端口數(shù)據(jù)支持:具有USB接口,可直接復(fù)制記錄歷史曲線和數(shù)據(jù),也可通過RS-232或RS-485接口控制機(jī)器并將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在計(jì)算機(jī)硬盤上。
嚴(yán)選材料,標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)更安全:哈斯特試驗(yàn)箱采用弧形雙內(nèi)膽設(shè)計(jì),不銹鋼圓形結(jié)構(gòu),符合工業(yè)安全容器標(biāo)準(zhǔn),在試驗(yàn)過程中杜絕凝露,杜絕濕氣,避免蒸汽過熱的直接影響,滿足UHAST、BHAST測(cè)試要求。
定時(shí)干燥功能:具有定時(shí)干燥功能,使試驗(yàn)產(chǎn)品處于干燥狀態(tài),當(dāng)干燥時(shí),會(huì)顯示異常原因和故障,觸發(fā)自動(dòng)安全保護(hù)。
通過這些特點(diǎn),HAST高壓加速老化試驗(yàn)箱能夠?yàn)楦鞣N產(chǎn)品提供嚴(yán)格的可靠性測(cè)試,確保產(chǎn)品在高溫高濕高壓環(huán)境下的性能和壽命。
hast高壓老化箱測(cè)試系統(tǒng)與常規(guī)老化測(cè)試的不同之處主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面:
加速因子:HAST測(cè)試通過在的溫度和濕度條件下進(jìn)行,實(shí)現(xiàn)了比常規(guī)老化測(cè)試更高的加速因子,從而能夠更快地揭示產(chǎn)品潛在的問題和缺陷。
測(cè)試環(huán)境條件:HAST測(cè)試在更高的溫度和濕度水平下進(jìn)行,有時(shí)還結(jié)合高壓,而常規(guī)老化測(cè)試則在相對(duì)較低的環(huán)境應(yīng)力下進(jìn)行,以模擬產(chǎn)品在正常使用條件下的老化過程。
測(cè)試目的和應(yīng)用領(lǐng)域:HAST測(cè)試專注于評(píng)估電子產(chǎn)品在環(huán)境下的性能,特別是防潮性、耐濕性和絕緣性能,而常規(guī)老化測(cè)試則旨在評(píng)估產(chǎn)品在實(shí)際使用環(huán)境中的耐久性和使用壽命,適用于更廣泛的材料和行業(yè)。
測(cè)試方法:HAST測(cè)試包括飽和和不飽和兩種類型,以適應(yīng)不同的測(cè)試需求,而常規(guī)老化測(cè)試則包括了多種測(cè)試方法,如紫外老化、鹽霧老化、臭氧老化等,以覆蓋不同的環(huán)境應(yīng)力條件。
HAST測(cè)試的高加速特性使其成為評(píng)估產(chǎn)品在高溫高濕環(huán)境下性能的有力工具,尤其適用于快速發(fā)展的電子行業(yè),而常規(guī)老化測(cè)試則為產(chǎn)品在更廣泛環(huán)境條件下的性能提供了重要參考。這兩種測(cè)試方法各有優(yōu)勢(shì),根據(jù)產(chǎn)品的具體應(yīng)用場(chǎng)景和測(cè)試需求選擇最合適的測(cè)試方法。