225L單層防爆型恒溫恒濕試驗箱雙層可選
簡要描述:225L單層防爆型恒溫恒濕試驗箱雙層可選是一種專業(yè)的測試設(shè)備,用于進行各種產(chǎn)品在恒溫恒濕和防爆環(huán)境下的性能測試。該試驗箱具有單層結(jié)構(gòu),容積為225升。同時,該型號的試驗箱還提供了雙層結(jié)構(gòu)的選擇。適用于各種需要在恒溫恒濕和防爆環(huán)境下進行性能測試的產(chǎn)品,如電子元器件、化工材料、醫(yī)療器械等。通過模擬實際使用條件,可以評估產(chǎn)品的性能和可靠性。
- 產(chǎn)品型號:DR-H201F
- 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
- 更新時間:2024-10-15
- 訪 問 量:648
225L單層防爆型恒溫恒濕試驗箱雙層可選是一種專業(yè)的測試設(shè)備,用于進行各種產(chǎn)品在恒溫恒濕和防爆環(huán)境下的性能測試。該試驗箱具有單層結(jié)構(gòu),容積為225升。同時,該型號的試驗箱還提供了雙層結(jié)構(gòu)的選擇。
以下是關(guān)于225L單層防爆型恒溫恒濕試驗箱的主要特點:
容積適中:225L的容積可以滿足一定規(guī)模的測試需求,適用于較小型產(chǎn)品或少量樣品的測試。
恒溫恒濕功能:試驗箱具有高精度的恒溫恒濕控制功能,能夠提供穩(wěn)定的溫度和濕度環(huán)境,以模擬實際應(yīng)用條件下的情況。
防爆設(shè)計:該試驗箱采用專業(yè)的防爆材料和安全措施,確保在測試過程中的安全性,防止意外發(fā)生。
雙層結(jié)構(gòu)可選:除了單層結(jié)構(gòu)外,該型號的試驗箱還提供了雙層結(jié)構(gòu)的選項。雙層結(jié)構(gòu)可以增加試驗箱的容量,使其更適用于大型產(chǎn)品或多組樣品的同時測試。
安全可靠:試驗箱具有可靠的控制系統(tǒng),采用的微電腦控制技術(shù),以確保測試結(jié)果的準確性和穩(wěn)定性。
225L單層防爆型恒溫恒濕試驗箱適用于各種需要在恒溫恒濕和防爆環(huán)境下進行性能測試的產(chǎn)品,如電子元器件、化工材料、醫(yī)療器械等。通過模擬實際使用條件,可以評估產(chǎn)品的性能和可靠性。
225L單層防爆型恒溫恒濕試驗箱雙層可選維護保養(yǎng)方法:
1、清潔試驗箱:定期清潔試驗箱內(nèi)外部表面,可使用干凈的布擦拭。避免使用腐蝕性、磨損性或粉塵產(chǎn)生的清潔劑。
2、檢查密封性能:定期檢查試驗箱的門封、觀察窗封等密封件是否完好。如發(fā)現(xiàn)老化、破損或變形的情況,及時更換以保證試驗箱的密封性能。
3、維護加熱系統(tǒng):定期檢查試驗箱的加熱系統(tǒng),確保加熱器、傳感器等正常工作。如發(fā)現(xiàn)故障或異常,應(yīng)及時修理或更換。
4、保養(yǎng)控制系統(tǒng):定期檢查試驗箱的控制系統(tǒng),包括溫度控制儀表和程序控制器等。確保其準確性和穩(wěn)定性,如有問題應(yīng)及時修復(fù)或校準。
5、清潔過濾器:如果試驗箱配備了空氣過濾器,定期清潔或更換過濾器,以確??諝饬魍ǖ臅惩ê蜐崈舫潭?。
6、定期校準:定期對試驗箱進行校準,確保溫度、濕度和壓力等參數(shù)的準確性??梢晕袑I(yè)機構(gòu)進行校準或按照設(shè)備說明書進行操作。
7、注意安全使用:在使用試驗箱時,要遵守相關(guān)安全操作規(guī)程,確保試驗箱周圍的通風(fēng)良好,避免堵塞或阻擋通風(fēng)口。
8、定期維護:按照設(shè)備說明書的要求進行定期維護,包括潤滑部件、檢查和緊固螺絲等。
單層防爆型恒溫恒濕試驗箱的一些維護保養(yǎng)方法,通過定期檢查、清潔和維護,可以確保試驗箱的正常運行和長久的使用壽命。同時,也請遵守相關(guān)安全規(guī)程,確保使用過程中的安全性。如有具體的設(shè)備說明書,請按照說明書要求進行維護保養(yǎng)。
高溫試驗恒溫恒濕防爆試驗箱滿足標準
1. GJBl50.3(MIL-STD-810D) 高溫試驗方法。
2. GJBl50.4(MIL-STD-810D) 低溫試驗方法。
3. GB/T10586-1989溫濕試驗箱技術(shù)條件。
4. GJB150.9-8溫濕試驗。
5. GJB 150.3A-2009 JUN用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分:高溫試驗。
6. GJB 150.4A-2009 JUN用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分:低溫試驗。
7. GB/T 10592 -2008高低溫試驗箱技術(shù)條件。
8. GB/ T 2421-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 總則》。
9. GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則。
10. GB/2423.34-86.MIL-STD883(方法1004.2)高低溫組合循環(huán)試驗。
11. GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫。
12. GB/T2423.1~2《電工電子產(chǎn)品的基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗。A:低溫試驗方法、試驗B:高溫試驗方法》。