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PCT高壓加老化速壽命試驗機采用人性化設計，操作簡單易用，配備觸摸屏控制系統(tǒng)和直觀的軟件界面，方便用戶進行參數(shù)設置和測試操作。模擬真實環(huán)境中的高溫高濕和壓力條件，提供可靠的測試結果，通過PCT試驗箱測試的產(chǎn)品能夠在實際使用中表現(xiàn)出更高的可靠性和穩(wěn)定性。

pct高壓鍋蒸煮試驗箱主要用于測試半導體封裝的濕氣能力，將待測產(chǎn)品置于嚴苛的溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿著膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體。每天對設備周身進行清潔，試驗室為每一試驗周期完畢進行一次清潔作業(yè)，同時每周至少進行一次防銹油擦拭機身。

半導體pct試驗箱系列是一種功能強大、應用廣泛的設備，它通過模擬的環(huán)境條件，可以評估產(chǎn)品的耐久性和可靠性，為產(chǎn)品的研發(fā)、改進和質(zhì)量控制提供有力支持。主要用于測試半導體封裝的濕氣能力，將待測產(chǎn)品置于嚴苛的溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿著膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體。

hast高壓老化箱測試系統(tǒng)被廣泛應用于電子元器件行業(yè)、汽車電子領域、光電產(chǎn)業(yè)、醫(yī)療器械領域以及航天航空領域，用于測試半導體制造、電子元件、印刷電路板（PCB）、汽車電子控制系統(tǒng)、LED制造與檢測、光通信器件、小型植入式醫(yī)療器械、航天電子設備等產(chǎn)品的耐高溫高濕能力，多端口數(shù)據(jù)支持：具有USB接口，可直接復制記錄歷史曲線和數(shù)據(jù)，也可通過RS-232或RS-485接口控制機器并將數(shù)據(jù)存儲在計算機硬盤上

HAST高壓加速老化試驗箱定制是一種用于評估非氣密性封裝IC器件、半導體、微電子芯片、磁性材料及其他電子零件在高溫、高濕、高壓環(huán)境下的可靠性的設備。采用干濕球溫度控制、升溫溫度控制及濕潤飽和控制等三箱控制模式，滿足國際標準要求 。 。